Garantir e melhorar o rendimento das telas, detecção e reparo do Micro LED é um grande desafio

A fim de melhorar e garantir o rendimento dos displays MicroLED, a inspeção e o reparo são etapas-chave indispensáveis ​​no processo. No entanto, para os fabricantes comprometidos com a produção de displays MicroLED, a detecção e a reparação de chips MicroLED grandes e pequenos continua sendo um desafio formidável.

O teste de LED inclui fotoluminescência (PL) e eletroluminescência (EL). O primeiro pode testar o chip LED sem tocar e danificar o chip LED, mas o efeito de detecção é o mesmo do teste EL. A proporção é ligeiramente inferior e é impossível encontrar todas as falhas, o que pode reduzir o rendimento de produção subseqüente. Por outro lado, o teste EL é testado energizando o chip LED para identificar mais defeitos, mas pode causar danos ao chip devido ao contato. Devido ao pequeno tamanho do chip, o MicroLED é difícil de aplicar ao equipamento de teste tradicional. A dificuldade de detecção de EL é bastante alta, mas o teste de PL pode ser perdido, resultando em baixa eficiência de detecção.

Como resultado, os desenvolvedores de tecnologia e os fabricantes de equipamentos continuam desenvolvendo sofisticadas técnicas de teste para melhorar a eficiência de detecção, evitando danos ao chip. A equipe de pesquisa da Universidade de Xiamen e da Universidade Hsinchu Jiaotong desenvolveu em conjunto um sistema de imagem microscópico tipo câmera para teste MicroLED, que combina computador, câmera digital atual, haste de suprimento atual e software de suporte de microscópio para capturar e analisar microscópios. Imagem, medindo o brilho do chip MicroLED.

O especialista em equipamentos Konica Minolta Group também começou a desenvolver sistemas de inspeção MicroLED e MiniLED por meio de duas subsidiárias, a alemã InstrumentSystems e a RadiantVision Systems. O grupo abrange uma ampla gama de campos, incluindo correção de gama. Uniformidade e detecção de chip LED.

Devido ao pequeno tamanho da matriz MicroLED, como reparar e substituir efetivamente a matriz defeituosa é uma tarefa difícil. As soluções de reparo atualmente utilizadas pelos fabricantes de displays MicroLED incluem tecnologia de reparo de irradiação UV, tecnologia de reparo de fusível a laser, tecnologia de reparo seletivo de pick and place, tecnologia de reparo seletivo a laser e design de circuito redundante.

A startup norte-americana Tesoro propôs uma solução de inspeção de processo que combina um teste EL sem contato e um método de transferência de posicionamento por feixe (BAR) para transferir chips MicroLED de alta qualidade para um substrato alvo em alta velocidade.

A fábrica japonesa de equipamentos Toray introduziu a solução de inspeção MicroLED, que usa a ferramenta de detecção automática de luz para detecção de contato zero. Após a detecção, a ferramenta de corte a laser é usada e os produtos defeituosos do chip MicroLED são removidos de acordo com o resultado da detecção.

De acordo com o coordenador de pesquisa do LED, Yu Chao, a maioria dos custos de produção dos monitores MicroLED é proveniente de reparos e grandes transferências, e até indicam que, se maiores rendimentos forem alcançados, a chave ainda é a melhoria de todo o processo, desde o silício epitaxial. bolachas para enormes quantidades. Transferir.